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日本leccompany光纖溫度控制器OPM系列 OPM是一款集高速響應(yīng)非接觸/輻射溫度計和控制器于一體的光纖溫度控制器。通過根據(jù)加熱條件設(shè)置過濾器，可以進行各種加熱控制，例如間隔時間的平滑和峰值顯示。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1886
FL-8系列/SL-9系列日本leccompany非接觸式輻射溫度計
日本leccompany非接觸式輻射溫度計FL-8系列/SL-9系列 FL-8 是一種非接觸式輻射溫度計，它使用用于氟化物紅外線的纖維。 可測量低溫和微小表面，適用于測量鏡面材料的表面溫度。（SL-9系列是石英光纖）
更新日期：2025-05-02 訪問量：1316
日本leccompany紅外輻射測溫儀KTL系列 是適用于φ0.4以上小面積測溫的高速響應(yīng)、高精度紅外輻射測溫儀。可用于真空加熱爐的溫度控制、芯片的釬焊、模具溫度控制、利用高速響應(yīng)性的高頻加熱線的溫度控制等廣泛的用途。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1448
日本leccompany光纖紅外輻射溫度計IGA系列 IGA是一種高精度光纖紅外輻射溫度計。溫度測量范圍為200至3000℃，溫度范圍可從6個量程中選擇。非常適合透過玻璃進行測量、鍛造和鑄造的溫度控制以及高頻加熱線的溫度控制。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1303
日本leccompany雙色溫度計L-2000系列 L-2000 是一款雙色溫度計，配備兩種不同波長的傳感器，InGaAs 和 Si。 通過使用兩種類型的傳感器，它不太容易受到視野不足、灰塵、煙霧等的影響， 當然它是一個可以通過常規(guī)玻璃測量溫度的溫度計。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1352
日本leccompany輻射溫度計L-1000 系列 您現(xiàn)在可以直接使用 D.SET 鍵設(shè)置警報。這使您可以將人類感官轉(zhuǎn)換為設(shè)定值。 它是一種規(guī)格簡單、具有特殊性的產(chǎn)品。（除光束功能外，設(shè)定值在LOCK狀態(tài)下受到保護。）
更新日期：2025-05-02 訪問量：1391
日本leccompany非接觸式溫度計LX200系列 LX-200 是一款非接觸式溫度計，盡管體積小，但具有溫度顯示功能。 高速響應(yīng)是可能的，因為它使用光學(xué)傳感器測量 80 至 1000°C。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1327
日本CMT實驗用振動篩分機MVS-200 1 頻率可以控制在720至7200次/分鐘的范圍內(nèi)。 2 可以將間歇運動時間設(shè)置為1至5秒以自由振動，并且可以停止1秒重復(fù)操作。
更新日期：2024-03-21 訪問量：2094
日本CMT實驗用電動篩分機MVS-200-振動篩 它是一種篩分機，它通過電磁鐵在振動器中產(chǎn)生垂直振動，并將其引導(dǎo)到振動基座。 為了提高篩分效率，我們改進了功能，例如無級變速和間歇運動。 此外，這種振動方法使您可以設(shè)置篩分直徑為200,150 mm的標準產(chǎn)品，該產(chǎn)品被廣泛使用，有望提高篩分工作的效率。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1985
日本sosey實驗用真空消泡攪拌機ZEROMAZE-攪拌設(shè)備
日本sosey容器旋轉(zhuǎn)式小型真空消泡攪拌器ZEROMAZE 消泡和混合工作可在短時間內(nèi)完成！
更新日期：2025-05-02 訪問量：1844
日本ihara薄膜黑白透射式密度計T5 plus 粒度/顆粒/粉末分析儀器
日本ihara薄膜黑白透射式密度計T5 plus 由于是光臺一體型，因此可以進行準確的密度（透過率）測量。 主要測量對象：薄膜、玻璃、樹脂 只要是透光的，就可以用上述以外的材料進行測量。
更新日期：2024-03-21 訪問量：2298
日本ihara攝影裝置用黑白透射光密度計TM-5 粒度/顆粒/粉末分析儀器
日本ihara攝影裝置用黑白透射光密度計TM-5 攝影圖像質(zhì)量 支持適合質(zhì)量控制的高密度 (6.0D) 測量。
更新日期：2024-03-21 訪問量：1978
日本asahi樹脂顆粒異物檢查裝置 樹脂顆粒檢查裝置是作為小批量抽樣評價檢查裝置開發(fā)的產(chǎn)品。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1604
日本asahi粉體異物檢查裝置IMAGE3000.RD 高精度異物檢測裝置 IMAGE3000.RD 使用高分辨率 CCD 相機自動檢測粉體異物檢測，該檢測目前通過目測進行。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1629
日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP 切割樣品表面缺陷的評估和檢查 可以通過分辨率為 15 μm 的缺陷圖輕松校準和驗證。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1590
