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日本CSC公司推出的CSPV-1000-N LED檢查燈是一款專為高精度工業檢測環境設計的專業照明工具，適用于半導體制造、制藥潔凈室、電子設備生產、精密機械檢測等嚴苛場景。憑借1000流明高亮度LED光源、三級調光系統、聚焦/擴散可調光型以及超長續航等核心優勢，該產品可顯著提升細微缺陷（如灰塵、劃痕、焊接不良等）的檢出率，是質量控制（QC）、生產維護及工業檢測人員的理想選擇。
1000流明高亮度照明：采用高顯色性（CRI≥90）LED光源，確保色彩真實還原，有效識別微小瑕疵（如PCB板焊點缺陷、晶圓表面微粒）。
三級調光模式（強/中/弱）：
強光模式（1000lm）：適用于高精度快速檢測，如半導體晶圓污染篩查。
中光模式（500lm）：平衡亮度與續航，適合長時間產線巡檢。
弱光模式（200lm）：超低功耗，可持續工作35小時，應對突發斷電或應急檢測。
聚焦/擴散雙光型切換：
聚焦模式（光束角≤10°）：提供高強度點光源，適用于深孔、精密部件局部檢測。
擴散模式（光束角≥120°）：均勻泛光，覆蓋大面積檢查區域（如潔凈室墻面、設備表面）。
緊湊防滾設計：八角形機身（φ43.1×178.2mm）搭配290g輕量化結構，適合狹窄空間單手操作。
IP54防護等級：防塵防濺水，耐受1米跌落沖擊，適應無塵室、工廠車間等復雜環境。
長效供電系統：
強光模式：5小時 | 中光模式：18小時 | 弱光模式：35小時
配備5000mAh可更換鋰電池（GA-17），支持快充（2小時充滿），并可選配雙電池實現24小時不間斷作業。
續航數據（實測）：
| 行業 | 典型應用場景 | CSPV-1000-N解決方案 |
|---|---|---|
| 半導體制造 | 晶圓表面微粒、光刻膠殘留檢測 | 無臭氧LED+擴散模式，避免污染敏感材料 |
| 制藥潔凈室 | A/B級區域設備表面微生物附著檢查 | 高亮度白光凸顯生物膜，防靜電材質符合GMP規范 |
| 電子制造業 | PCB板虛焊、微裂紋檢測；顯示屏壞點篩查 | CRI>90顯色性，精準還原電路細節 |
| 精密機械 | 齒輪組磨損、渦輪葉片內部探傷 | 聚焦模式穿透深窄結構，可選磁性底座固定 |
| 功能 | CSPV-1000-N | 普通工業手電筒 |
|---|---|---|
| 光源性能 | 1000流明恒流驅動，無頻閃 | 通常≤500lm，存在亮度衰減 |
| 光束控制 | 電動調焦，一鍵切換光型 | 固定光斑，需手動更換透鏡 |
| 電池系統 | 可更換鋰電池，支持熱插拔 | 內置電池，續航短且更換不便 |
| 環境適應性 | IP54防護，-10℃~50℃寬溫工作 | 多數僅IP50，低溫易失效 |
提升檢測效率：強光+聚焦模式使缺陷檢出率提升50%，減少漏檢導致的返工成本。
降低長期成本：LED壽命達50,000小時，較傳統鹵素燈節省90%維護費用。
合規性保障：符合ISO 14644-1（潔凈室標準）及ESD防靜電要求，適用于制造業。
CSC CSPV-1000-N檢查燈以專業級光學性能、工業級可靠性和場景化設計，成為精密檢測領域的工具。無論是半導體晶圓廠的微粒控制，還是航空發動機的深孔探傷，其高亮度、長續航、靈活光型調節的特性均能提供的檢測支持。
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