seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150 光學測量儀

seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1206    

日本seiwaopt硅晶片內部檢查光源SIS-150 光學測量儀

日本seiwaopt硅晶片內部檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1251    

日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 光學測量儀

日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1163    

日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 光學測量儀

日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1170    

日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 光學測量儀

日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-25    訪問量：1141    

日本seiwaopt近紅外鹵素燈光源SIS-150

日本seiwaopt近紅外鹵素燈光源SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。

更新日期：2025-05-02    訪問量：1535    

SIS-150（-NIR / -AIR）日本seiwaopt近紅外鹵素燈光源 光學測量儀

日本seiwaopt近紅外鹵素燈光源SIS-150（-NIR / -AIR） 一種在近紅外區域具有峰值的光纖光源設備。 通過將其與專yong光學系統和對近紅外區域敏感的相機配合使用，它非常適合無損檢測，例如Si晶圓的內部檢測和背面圖案的觀察。

更新日期：2024-03-19    訪問量：1928