光學(xué)薄膜與晶體材料檢測利器：LUCEO LSM-9002LE應(yīng)力儀應(yīng)用案例

發(fā)布日期：2025-08-20      瀏覽次數(shù)：152

在現(xiàn)代光學(xué)制造和材料科學(xué)領(lǐng)域，殘余應(yīng)力是影響產(chǎn)品性能的關(guān)鍵因素之一。無論是光學(xué)薄膜的均勻性，還是晶體材料的穩(wěn)定性，細(xì)微的應(yīng)力分布不均都可能導(dǎo)致透光率下降、折射率偏移甚至結(jié)構(gòu)開裂。日本LUCEO公司推出的LSM-9002LE全自動(dòng)應(yīng)力儀，憑借其高精度二維分析能力，成為行業(yè)認(rèn)可的檢測解決方案。以下通過實(shí)際案例解析其應(yīng)用價(jià)值。

案例1：光學(xué)薄膜鍍膜工藝優(yōu)化

問題：某光學(xué)企業(yè)生產(chǎn)AR（抗反射）鍍膜玻璃時(shí)，發(fā)現(xiàn)批次產(chǎn)品存在局部彩虹紋現(xiàn)象，傳統(tǒng)方法無法定位應(yīng)力異常點(diǎn)。
LSM-9002LE解決方案：

• 通過205×205mm大范圍掃描，快速生成薄膜應(yīng)力2D分布圖，鎖定彩虹紋對應(yīng)的高應(yīng)力區(qū)域（延遲值超80nm）。

• 結(jié)合軟件橫截面分析功能，發(fā)現(xiàn)應(yīng)力集中與鍍膜機(jī)噴口溫度梯度相關(guān)。
  結(jié)果：調(diào)整鍍膜參數(shù)后，應(yīng)力均勻性提升40%，不良率下降至0.5%以下。

案例2：藍(lán)寶石晶體切割質(zhì)量控制

問題：藍(lán)寶石襯底在切割后出現(xiàn)邊緣微裂紋，傳統(tǒng)偏光鏡檢測效率低且無法量化。
LSM-9002LE優(yōu)勢體現(xiàn)：

• 利用1100×1100像素分辨率，精準(zhǔn)識別切割路徑上的應(yīng)力集中點(diǎn)（延遲值突變≥50nm區(qū)域）。

• 3D應(yīng)力云圖直觀顯示裂紋源位于晶體斜切面與主軸方向夾角偏差處。
  結(jié)果：優(yōu)化切割刀具角度后，邊緣應(yīng)力峰值降低60%，良品率提高至98%。

案例3：樹脂鏡片注塑成型監(jiān)測

挑戰(zhàn)：注塑成型鏡片因冷卻速率不均導(dǎo)致雙折射問題，影響成像清晰度。
LSM-9002LE的創(chuàng)新應(yīng)用：

• 全自動(dòng)測量模式下，單次檢測僅需20秒，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)線每10分鐘抽檢1次。

• 通過直方圖統(tǒng)計(jì)功能，量化不同冷卻溫度下的應(yīng)力標(biāo)準(zhǔn)差（σ從12nm降至4nm）。
  效益：建立最佳工藝窗口后，產(chǎn)品光學(xué)均勻性達(dá)到ISO8980-1標(biāo)準(zhǔn)。

為什么選擇LSM-9002LE？

1. 全自動(dòng)化：減少人為誤差，適應(yīng)生產(chǎn)線高頻檢測需求；

2. 量化輸出：CSV數(shù)據(jù)支持SPC統(tǒng)計(jì)過程控制；

3. 跨材料兼容性：玻璃、塑料、晶體、薄膜均可覆蓋。

結(jié)語：從實(shí)驗(yàn)室研發(fā)到量產(chǎn)管控，LSM-9002LE以1nm級重復(fù)精度和可視化分析能力，成為解決材料應(yīng)力問題的“工業(yè)CT"。如需獲取定制化檢測方案，請聯(lián)系LUECO中國區(qū)代理（北崎國際貿(mào)易/深圳秋山貿(mào)易）提供技術(shù)支持。